光耦的检测的新办法

  判别光耦的好坏，可在路丈量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确认。更牢靠的检测办法是以下三种。

  拆下置疑有问题的光耦，用万用表丈量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的丈量值作比较，若阻值相差较大，则阐明光耦已损坏。

  光耦检测为例来阐明数字万用表检测的办法，检测时将光耦内接二极管的+端{1}脚和-端{2}脚别离刺进数字万用表的Hfe的c、e插孔内，此刻数字万用表应置于NPN挡;然后将光耦内接光电三极管c极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在R×1k挡。这样就能经过指针式万用表指针的偏转视点——其实便是光电流的改变，来判别光耦的状况。指针向右偏转视点越大，阐明光耦的光电转化功率越高，即传输比越高，反之越低;若表针不动，则阐明光耦已损坏。

  以光耦合器的检测为例，将万用表置于R×1k电阻挠，两表笔别离接在光耦的输出端{4}、{5}脚;然后用一节1.5V的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极点接PC111的{1}脚，负极点碰接{2}脚，或许正极点碰接{1}脚，负极点接{2}脚，这时调查接在输出端万用表的指针偏转状况。假如指针摇摆，阐明光耦是好的，假如不摇摆，则阐明光耦已损坏。万用表指针摇摆偏转视点越大，标明光电转化灵敏度越高。